* Ces horaires sont donnés à titre indicatif.
La caractérisation structurale et microstructurale des matériaux, et en particulier des nanomatériaux, devient de plus en plus importante dans de nombreux secteurs industriels, notamment la chimie de spécialité, la chimie fine, l’industrie textile, l’électronique, l’aérospatiale, le nucléaire, le domaine pharmaceutique, etc...
Le terme "nanotechnologie" désigne le domaine de la science où de nouveaux phénomènes physico-chimiques apparaissent à l’échelle nanométrique. Comprendre les propriétés fondamentales de la matière à cette échelle est donc primordial, pour pouvoir apporter une expertise des plus précises et fiables.
Cette UE porte sur des techniques d’analyse permettant la caractérisation structurale et microstructurale des matériaux et se focalise en particulier sur le cas des nanomatériaux.
COURS :
I- Théorie : Lois d’échelle – Forme des cristaux - théorème de Wulff : 3h
II- Microscopie électronique et à sonde locale : 3h
II- Spectroscopie Raman et Infra-Rouge : 3h
III- Spectrométrie photo électronique par rayons X (XPS) : 3h
IV – Spectrométrie d’absorption X (EXAFS et XANES) : 3h
TD :
2h XPS, 2h Raman/IR, 2h XAS
TP :
3h30 XPS, 3h30 Raman/IR, 2h Microcopie électronique
Objectifs visés par cette UE :
L’objectif premier pour les étudiants est d’être capable de décider du choix ou non d'une technique d’analyse structurale et microstructurale parmi celles étudiées dans l’UE, de comprendre sa mise en œuvre et d‘avoir les bases pour interpréter les résultats obtenus. Suite à cet enseignement, les étudiants pourront évaluer la place de ces techniques dans le cas d'analyses comparatives, en particulier dans le cas des nanomatériaux dont ils auront compris les spécificités.
Compétences techniques acquises :
- du vide,
- d'acquisition en ligne,
- de détection des rayonnements
Secteur d’activité concerné :
- Analyses structurales et microstructurales
- Analyses de surface
- Domaine des nanomatériaux
Type | Libellé | Nature | Coef. | ||
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CT | Contrôle Terminal | CT : Analyse des structures | Dossier - Ecrit - Oral | 2.25 | |
CC | Contrôle Continu | CC : Analyse des structures | Contrôle Continu | 0.75 |