Cette UE a pour objectifs de présenter les différents systèmes de caractérisation, d’analyse et usinage de matériaux et dispositifs pour l’industrie. Ces différents systèmes seront abordés suivant divers points de vue : leur principe de fonctionnement et leur utilisation, ainsi que leur développement instrumental.
Des éléments de cette UE seront sélectionnés dans le cadre du futur parcours Technico-commercial.
PRINCIPE DE FONCTIONNEMENT
1. Les microscopies électroniques et ioniques (FIB) (13h)
2. Les microscopies en champ proche (9h)
3. Les techniques d’analyse de surface : 24h
4. Les capteurs : généralité, phénomènes physiques, caractéristiques et limitations (12h)
DEVELOPPEMENT INSTRUMENTAL & APPLICATIONS
1. Sources d’électrons : correction d’aberration sphérique… (4h)
2. Sources d’ions : FIB (2h)
3. Lithographie : 6h
4. Micro et nano dispositifs mécaniques : (4h)
5. Nano-métrologie : (4h)
TRAVAUX PRATIQUES : MEB (4h), MET (2h), AFM (4h), STM (2h), FIB (2h), XPS (4h), Tof-SIMS (4h), LIBS (4h)
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Intervenants industriels/CNRS potentiels : Orsay Physics, Science et Surface, LNE, LPN Marcoussis, CEA LETI
Formateurs locaux : JM. Benoit, L. Bardotti, J. Tuaillon, V. Motto-Ros, D. Leonard, E. Cottancin…
