* Ces horaires sont donnés à titre indicatif.
Partie A : MICROSCOPIES : Microscopie électronique, diffraction électronique , microscopies en champ proche
A1 - Microscopie électronique, diffraction électronique
A2 - Microscopie à balayage
A3 - Microscopie en champ proche (Concepts de base)
Partie B : SPECTROSCOPIES :Techniques d'analyse de surface pour caractériser les propriétés physico-chimiques des surfaces et des films minces
B1 – Introduction
B2 - Interactions des rayons X avec la matière
B3 - Microsonde électronique
B4 - Low Energy Electron Induced X-ray Spectrometry (LEEIXS)
B5 - Spectroscopie photoélectronique (XPS, UPS)
B6 - Spectroscopie des électrons Auger (AES)
B7 - Interaction des ions avec la matière
B8 - Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
B9 - Spectrométrie de diffusion d''ions (ISS)Type | Libellé | Nature | Coef. | ||
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CT | Contrôle Terminal | CT : Analyse de surface | Ecrit session 1 / Ecrit session 2 | 4.5 | |
CT | Contrôle Terminal | CT : Analyse de surface | Travaux pratiques | 1.5 |